半导体元件引脚是什么，电子元件的引脚-中国黑防联盟

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1，电子元件的引脚
2，三极管三个引脚是什么
3，电子元器件很多引脚的叫什么
4，三极管的三个引脚分别是什么

1，电子元件的引脚

都是铁是镀铜

没有

电子元件的引脚

2，三极管三个引脚是什么

三极管是半导体基本元器件之一，具有电流放大作用，是电子电路的核心元件。三极管是在一块半导体基片上制作两个相距很近的PN结，两个PN结把整块半导体分成三部分，中间部分是基区，两侧部分是发射区和集电区，排列方式有PNP和NPN两种。截止状态当加在三极管发射结的电压小于PN结的导通电压，基极电流为零，集电极电流和发射极电流都为零，三极管这时失去了电流放大作用，集电极和发射极之间相当于开关的断开状态，我们称三极管处于截止状态。当加在三极管发射结的电压大于PN结的导通电压，并处于某一恰当的值时，三极管的发射结正向偏置，集电结反向偏置，这时基极电流对集电极电流起着控制作用，使三极管具有电流放大作用，其电流放大倍数β=ΔIc/ΔIb，这时三极管处放大状态。当加在三极管发射结的电压大于PN结的导通电压，并当基极电流增大到一定程度时，集电极电流不再随着基极电流的增大而增大，而是处于某一定值附近不怎么变化，这时三极管失去电流放大作用，集电极与发射极之间的电压很小，集电极和发射极之间相当于开关的导通状态。三极管的这种状态我们称之为饱和导通状态。

1、三极管的测量三极管的极性及管型判断把万用表打到蜂鸣二极管档，首先用红笔假定三极管的一只引脚为b极，再用黑笔分别角碰其余两只引脚，如果测得两次讲习数相差不大，且都在600左右，则表明假定是对的，红笔接的就是b极，而且此管为npn型管。c、e极的判断，在两次测量中黑笔接触的引脚，读数较小的是c极，读数较大的是e极。红笔接b极，当测得的两级数值都不在范围内，则按pnp型管测。pnp型管的判断只须把红黑表笔调换即可，测量方法同上。贴片三极管测量：正视，两脚左下脚为b极（基极），测量方法同上2、好坏判断按以上方法测量时两组读数在300--800为正常，如果有一组数值不正常三极管为坏，如果两组数值相差不大说明三极管性变劣。测量ce两脚，如果读数为0，说明三极管ce之间短路或击穿，如果读数为1，说明三极管ce之间开路。

三极管三个引脚是什么

3，电子元器件很多引脚的叫什么

两个脚的有电阻,二极管,电容等三个脚的一般是三极管,可控硅三个脚以上的一般是集成电路块,排阻,偶合装置等.

电子元器件的引脚材质选择是一个十分专业的问题。据我所知，早在上世纪70年代，国内有关部门曾就此问题专门召开过多次研讨会。研讨的具体内容不了解，但据生产厂家的技术人员讲，不是材质问题（当时元器件引脚除特殊封装的元器件外，电阻、电容等都使用铜质引线），主要是封装工艺和引脚表面处理问题。　　查阅了一些资料，包括航天级、军工级等对元器件的要求，并没有特殊注明引脚的材质问题，主要是对元器件的封装形式、电气性能、机械性能、温度系数、分布参数、抗辐射能力等方面的要求。原来我也认为纯铜引脚的元器件质量较好，但多年以来，使用了大量的元器件，其中绝大部分引脚都是“可以用磁铁吸起来的”，引脚表面光亮，可焊性极好，还没发现焊接不良、影响电路调试和正常工作以及日久引脚锈蚀等问题。反而，在使用手中保存的一些2w的金属膜电阻（70年代生产的，绝对是连引线帽都是纯铜的军工级产品）时，出现了引脚在焊接时不容易沾锡的情况，必须把引脚表面的涂覆层全部刮掉，然后在铜引线表面预先上锡，才能可靠焊接。　　我认为，元器件的引脚材质的变化，对于电子行业来说是一种进步，保证性能，降低成本，对厂商和使用部门都有好处。好多国际名牌电子元器件的引脚，也都不是纯铜的。因此，只要不影响元器件的性能和机械指标，无需关注引脚的材质问题。　　再谈一下元器件封装和性能对引脚的要求。　　1、“可以用磁铁吸起来的”，不代表肯定就是铜包钢，玻壳封装的元器件（玻封二极管、干簧管、气体放电管等），引脚大都是“可伐材料”（注：一种铁镍钴合金，也是铁磁性材料）制作的，使其与玻壳材料紧密结合不透气。　　2、元件引脚使用铜包钢，表面是铜加涂敷层，用于加强可焊性，与铜引脚加涂敷层的抗锈蚀能力没有区别，你提问中的“为什么不用铜引脚或铝引脚？还有铜包铝，黄铜也可选择啊！铜包钢导电太差了吧？而且很容易锈蚀”前后矛盾。要知道，铜包钢不等于钢包铜。　　3、为什么不用铝做引脚：铝是一种轻金属材料，化学性能比较活泼，其特点是，在空气中易与氧结合，在表面生成致密的氧化物薄膜，而其氧化薄膜又使铝不易被腐蚀，实际生活中的铝，化学性能还是相当稳定的，不存在“在空气中很快氧化变成粉状物”的问题。不用铝做元器件引脚主要是由于其可焊性差，使用通常的锡焊工艺不能焊接，必须使用特殊的助焊剂才行。由于铝的导电性能较好，比重较轻，近年来又出现了铜包铝的材质做元器件引脚的生产工艺，效果也很好。　　4、对于要求较高的元器件，有些引脚还采用了表面镀银和镀金做法，增强导电性能，极高抗腐蚀能力；还有无引脚的元器件，在元器件布件密度高，要求分布参数尽量小的精密电子设备中应用也越来越广泛。以上是对元器件引脚问题的一些粗浅看法，有谬误之处，欢迎批评。

电子元器件很多引脚的叫什么

4，三极管的三个引脚分别是什么

E:发射级，B:基级，C:集电极发射区和基区之间的PN结叫发射结。集电区和基区的PN结叫集电极。共发射极大放大电路输入电信号加在三极管的基级。附：三极管，全称应为半导体三极管，也称双极型晶体管、晶体三极管，是一种控制电流的半导体器件其作用是把微弱信号放大成幅度值较大的电信号，也用作无触点开关。晶体三极管，是半导体基本元器件之一，具有电流放大作用，是电子电路的核心元件。三极管是在一块半导体基片上制作两个相距很近的PN结，两个PN结把整块半导体分成三部分，中间部分是基区，两侧部分是发射区和集电区，排列方式有PNP和NPN两种。

主要有放大、开关、大电阻的作用…三个管脚分别为集电极(C)、基极(B)、发射极(E)…可以用万用表来初步确定三极管的好坏及类型 (NPN 型还是 PNP 型 ),并辨别出e（发射极）、b（基极）、c（集电极）三个电极。测试方法如下 :①用指针式万用表判断基极 b 和三极管的类型:将万用表欧姆挡置 "R × 100" 或"R×lk" 处,先假设三极管的某极为"基极",并把黑表笔接在假设的基极上,将红表笔先后接在其余两个极上,如果两次测得的电阻值都很小(或约为几百欧至几千欧 ),则假设的基极是正确的,且被测三极管为 NPN 型管；同上,如果两次测得的电阻值都很大( 约为几千欧至几十千欧 ), 则假设的基极是正确的,且被测三极管为 PNP 型管。如果两次测得的电阻值是一大一小,则原来假设的基极是错误的,这时必须重新假设另一电极为"基极"，再重复上述测试。②判断集电极c和发射极e:仍将指针式万用表欧姆挡置 "R × 100"或"R × 1k" 处,以NPN管为例,把黑表笔接在假设的集电极c上,红表笔接到假设的发射极e上,并用手捏住b和c极 ( 不能使b、c直接接触 ), 通过人体 , 相当 b 、 C 之间接入偏置电阻 , 读出表头所示的阻值 , 然后将两表笔反接重测。若第一次测得的阻值比第二次小 , 说明原假设成立 , 因为 c 、 e 问电阻值小说明通过万用表的电流大 , 偏置正常。③用数字万用表测二极管的挡位也能检测三极管的PN结,可以很方便地确定三极管的好坏及类型,但要注意,与指针式万用表不同,数字式万用表红表笔为内部电池的正端。例:当把红表笔接在假设的基极上, 而将黑表笔先后接到其余两个极上, 如果表显示通〈硅管正向压降在 0.6V 左右 ), 则假设的基极是正确的 , 且被测三极管为 NPN 型管。数字式万用表一般都有测三极管放大倍数的挡位(hFE), 使用时 , 先确认晶体管类型 , 然后将被测管子 e 、b 、c三脚分别插入数字式万用表面板对应的三极管插孔中,表显示出hFE 的近似值。朋友，三极管可以做放大，检波，开关等作用的。用在不同电路起到的作用也就不一样。具体三极管的判断你参考一下我收集整理的啊。三极管的测量三极管管脚极性的识别多数小功率三极管的管脚是等腰三角形排列，其顶点是基极，左边是发射极，右边是集电极。有的是从管底看，由管帽突出处顺时针排列为发射极，基极，集电极。有的管型用管帽色点或者管脚塑料护套颜色来标明极性的，红色为集电极，绿色为发射极，白色是基极。有的管型管脚是一字形排列，用集电极管脚较短，或者集电极与其它极距离最远来区别电极，中间是基极，另一个脚是发射极。大功率管一般直接用外壳做集电极引出端。有的在较高频率工作的三极管，为了屏蔽高频电磁干扰，管壳用一支脚引出，以准备接地或者接零，符合为d，从管底看，由管壳边凸出处顺时针依次是发射极，基极，集电极，管壳引线。大部分国产硅酮塑封三极管，从正对截角或剖去平面的方向看，从左到右依次是发射极，基极，集电极。超小型三极管将截角的管脚焊片定为发射极，对面是脚是基极，垂直的第三个脚是集电极。另外一种半球形超小型三极管，将球面朝上，从左到右，依次是基极，集电极，发射极。三极管用万用表测量管脚极性用万用表R×100或者R×1K档分别测量各管脚间电阻，必有一只脚对其它两脚电阻值相似，那么这只脚是基极，如果红表笔（正表笔）接基极，测得与其它两脚电阻都小，那么这只管子是PNP管。如果测得电阻很大，那么这个管子是NPN管。找到基极后，分别测基极对其余两脚的正向电阻，其中阻值稍小的那个是集电极，另外一个是发射极，这是因为集电结较大，正偏导通电流也较大，所以电阻稍小一点。三极管好坏大致判断利用三极管内PN结的单向导电性，检查各极间PN结的正反向电阻，如果相差较大说明管子是好的，如果正反向电阻都大，说明管子内部有断路或者PN结性能不好。如果正反向电阻都小，说明管子极间短路或者击穿了。三极管穿透电流测量判断用万用表检查管子的穿透电流Iceo，是通过测量集电极与发射极之间的反向阻值来估计的，如果穿透电流大，阻值就较小。测PNP小功率锗管时，万用表R×100档正表笔接集电极，负表笔接发射极，相当于测三极管集电结承受反向电压时的阻值，高频管读数应在50千欧姆以上，低频管读数应在几千欧姆到几十千欧姆范围内，测NPN锗管时，表笔极性相反。测NPN小功率硅管时，万用表R×1K档负表笔接集电极，正表笔接发射极，由于硅管的穿透电流很小，阻值应在几百千欧姆以上，一般表针不动或者微动。测大功率三极管时，由于PN结大，一般穿透电流值较大，用万用表R×10档测量集电极与发射极间反向电阻，应在几百欧姆以上。如果测得阻值偏小，说明管子穿透电流过大。如果测试过程中表针缓缓向低阻方向摆动，说明管子工作不稳定。如果用手捏管壳，阻值减小很多，说明管子热稳定性很差。三极管放大系数β的测量估计：按测量三极管穿透电流的方法，再用手指同时捏住管子的集电极与基极，表针会迅速向低阻端摆动，摆动范围越大说明三极管放大系数β值越大。